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缺陷检测的任务分为三个阶段:缺陷分类、缺陷定位和缺陷分割。如下图所示,缺陷分类需要对缺陷类别(不同颜色、空洞、经络)进行分类;缺陷定位不仅需要获取缺陷类别,还需要标记缺陷位置;缺陷分割按像素将缺陷从背景像素分割出来。
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